|
Главная | Продукция и услуги | Статьи | Полезная информация | Сертификаты | Награды | Отзывы | Контакты |
Продукция и услуги
|
Туз Ю. М. Структурные методы повышения точности измерительных устройствДопущено Министерством высшего и среднего специального образования УССР в качестве учебного пособия для студентов приборостроительных специальностей вузов. ИЗДАТЕЛЬСКОЕ ОБЪЕДИНЕНИЕ «ВИЩА ШКОЛА» ГОЛОВНОЕ ИЗДАТЕЛЬСТВО КИЕВ - 1976 Туз Ю. М. Структурные методы повышения точности измерительных устройств. Издательское объединение «Вища школа», 1976, 266 с.
Для повышения точности измерительных устройств, информационно-измерительных систем и систем автоматического регулирования широко применяются
структурные методы повышения точности, характеризуемые тем, что благодаря временной или пространственной избыточности уменьшается удельный
вес погрешностей наиболее нестабильных блоков.
В книге дан обобщенный анализ структурных методов, прежде всего методов коррекции погрешностей, приведены основные алгоритмы коррекции при временном
и пространственном разделении каналов, условия сходимости итерационных алгоритмов, исследована эффективность коррекции случайных погрешностей,
описаны и проанализированы погрешности различных измерительных устройств с коррекцией погрешности. ТК Парус: железнодорожные перевозки
Содержание учебного пособия Введение
Глава 1. Основные понятия, классификация структурных методов повышения точности измерительных устройств
Глава 2. Аддитивная коррекция
Глава 3. Мультипликативная коррекция
Глава 4. Функциональная коррекция
Глава 6. Примеры устройств с коррекцией погрешности, Аддитивная коррекция в вольтметрах ВЗ-45, ВЗ-46
ВВЕДЕНИЕ
Характерная черта современного приборостроения — значительное повышение точности не только уникальных измерительных приборов, но и выпускаемых серийно.
В настоящее время наблюдается широкое распространение информационно-измерительных систем,, предназначенных, в частности, для метрологической оценки
различных объектов, когда необходимая информация может быть получена в результате измерения большого количества параметров. Общая погрешность оказывается инвариантной к той или иной погрешности отдельных блоков или их совокупности. Иначе говоря, коэффициенты влияния [53] при погрешностях отдельных блоков в общем уравнении погрешности оказываются меньшими единицы. При этом интересно отметить появление сопутствующего положительного эффекта, который делает возможным такое конструирование этих блоков, при котором, допуская определенный уровень одних погрешностей, достигаем снижения других. Например, снижение требований к стабильности делителей и усилителей позволяет выполнить их более широкополосными.
В течение последних десяти — двадцати лет благодаря работам Б. Н. Петрова, А. Н. Кухтенко, Г. В. Щипанова, А. Г. Ивахненко, П. Ф. Осмоловского,
Г. Ф. Зайцева [55, 90, 33, 51, 30] и др. в области автоматического управления возникла и развивалась ускоренными темпами теория и практика инвариантных
систем, вследствие чего были достигнуты значительные успехи в повышении точности систем автоматического регулирования. Широкие обобщения и развитие структурных методов повышения точности измерительных устройств были проведены в работах советских ученых Т. М. Алиева. [2], Ф. Б. Гриневича [21], М. А. Земельмана. [32], И. Ф. Клисторина [35], Л. Я. Мизюка [41], П. В. Новицкого [45], П. П. Орнатского [49], Ю. А. Скрипника [62], В. М. Шляндина [88], Е. Г. Шрамкова [89] и их учеников. Из приведенного далеко неполного перечня источников можно сделать вывод, что в последнее время структурным методам повышения точности уделяется самое пристальное внимание. Исследования ведутся широким фронтом на всех уровнях и во всех областях измерительной техники. Тем не менее, до настоящего времени не создана общая теория структурных методов, не очерчен и не разработан математический аппарат метода, не проведены обобщающие исследования в этой области, не выявлена сравнительная эффективность методов для решения различных метрологических задач, не решены задачи минимизации динамических погрешностей. Большая часть исследований выполнена для детерминированных систем. Не решены общие задачи синтеза, не говоря уже об оптимальном синтезе, и много других вопросов. Сознавая то, что невозможно решить все упомянутые выше проблемы, автор все же предпринял попытку провести обобщение структурных методов, выделив в качестве основного объекта исследований методы коррекции погрешностей, сформулировать теоретические основы метода коррекции, дать строгое математическое доказательство основных положений теории, привести схемы наиболее перспективных устройств. Автор считает своим приятным долгом выразить искреннюю благодарность доктору технических наук Орнатскому П. П. за полезные советы при обсуждении рукописи, а также кандидатам технических наук Володарскому Е. Т., Губарю В. И., Литвиху В. В., взявшим на себя труд написания шестой главы книги. Скачать книгу Структурные методы повышения точности измерительных устройств. Издательское объединение «Вища школа», Киев, 1976
|
143502 МО, г.Истра-2, ул. Заводская, 43А. Тел. (49631) 4-66-21. E-mail: toroid2011@mail.ru |